增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測厚儀介紹：

增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測厚儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動(dòng)平臺實(shí)現(xiàn)XYZ軸編程位移，實(shí)現(xiàn)無人值守多點(diǎn)測量，測量軟件置入先進(jìn)的EFP算法及解譜技術(shù)，解決了諸多業(yè)界難題。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

增駿XAD-200膜厚儀/臘厚分析儀器產(chǎn)品特點(diǎn)：

核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準(zhǔn)檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

 配備全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺，可實(shí)現(xiàn)無人值守，對成百上千個(gè)樣品進(jìn)行全自動(dòng)檢測

 涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

 成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）

 RoHS、鹵素有害元素檢測

 人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

 標(biāo)配四準(zhǔn)直器自動(dòng)切換

 配有微光聚集技術(shù)，最近測距光斑擴(kuò)散度小于10%